一种工业缺陷识别方法、系统、计算设备及存储介质的发明专利
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2022/06/07
摘要：
本申请实施例公开了一种工业缺陷识别方法、系统、计算设备及存储介质，属于AI领域。在本申请实施例中，首先从待识别图像中提取目标区域，然后再从目标区域中获得包含有工业缺陷的缺陷粗选区域。通过两次区域提取，提高了工业缺陷相对背景的尺寸占比，能够提高小尺寸的工业缺陷的检出概率。在检测出包含有工业缺陷的缺陷粗选区域之后，对缺陷粗选区域中的工业缺陷进行进一步定位和尺寸估计，能够有效提高缺陷定位和尺寸估计的精度。另外，本申请实施例中不仅对缺陷类型进行了识别，还能够对工业缺陷进行定位和尺寸估计，丰富了工业缺陷的识别维度
一种工业缺陷识别方法、系统、计算设备及存储介质的发明专利
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